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日本SANKO三晃电子电磁式膜厚计SWT-NEO-F

日本SANKO三晃电子电磁式膜厚计SWT-NEO-F

货号: SWT-NEO-F
库存: 紧张

简介

规格测量范围因连接探针(另售)而异显示方式图形液晶屏标准曲线校正两点校正式(零点、标准调整点)标准曲线存储器铁、有色用各1根无线电标准蓝牙4.2低能量数据通信软件U-WAVEPAK-BW(Windows11Pro64bit )( Windows10Pro64bit )数据通信APPU-WAVEPAK-BM从谷歌play,AppStore下…

产品详情

规格

测量范围
0~2.50mm
显示方式
液晶屏数字,显示保持
显示分辨率
1μm:0~999μm
用切换
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
0.01mm:1.00~2.50mm
测量精度
相对于均匀面为0~100μm:±1μm或指示值±2%
101μm~2.50mm:±2%以内
标准曲线存储器
×1
电源
7号碱性干电池( 1.5V )×2连续使用时间( 25小时※)
交流适配器(可选)
带自动断电功能
※最大(可能会因使用条件而变化。 )
使用温度
0~40℃(无结露)
机体尺寸
72(W )×30(H )×156(D ) mm
重量
约270g (包括电池)
附件
标准厚板、测试用零板、干电池、收纳盒、手机绳、保证书兼用户登记表、使用说明书
探测器
1点定压接触式、带v形切口、φ15×47mm
备注
还有带内存、统计功能等的高性能SWT-NEOⅡ型。


日本SANKO三晃电子电磁式膜厚计CTR-2000V
¥0.00
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日本SANKO三晃电子膜厚计SAMAC-Pro
¥0.00
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